硅片厚度 選購(gòu)指南

進(jìn)口無(wú)接觸硅片測(cè)試儀

  產(chǎn)品介紹 手動(dòng)硅片測(cè)試儀可以測(cè)量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì))和Semi標(biāo)準(zhǔn)，確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。 硅片無(wú)接觸測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 無(wú)接觸測(cè)量 ■適用的晶圓材料包括Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料 ■ 厚度和TTV測(cè)量采用無(wú)接觸電容法探頭 ■ 高分辨率液晶屏顯示厚度和TTV值 ■ 性價(jià)比高 ■ 菜單式快速方便設(shè)置 ■ 高分辨率液晶......

電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞