硅片厚度測(cè)厚儀 

概述：[中介]硅片測(cè)厚儀(HS-WTT) 適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。 特征 液晶顯示 接觸式測(cè)量 手動(dòng)測(cè)量模式 數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示 具有輸出接口，可選配適配器實(shí)現(xiàn)232接口功能 技術(shù)指標(biāo) 測(cè)

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硅片測(cè)厚儀(HS-WTT)





適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。





特征


液晶顯示


接觸式測(cè)量


手動(dòng)測(cè)量模式


數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示


具有輸出接口，可選配適配器實(shí)現(xiàn)232接口功能








技術(shù)指標(biāo)


測(cè)量范圍：0～12.7mm


分辨率：0.001mm


外形尺寸：300mm（L）×200（B）×340mm（H）


凈重：20kg





標(biāo)準(zhǔn)


GB/T 1876-2007
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