光器件IEC61215-2報(bào)告檢測(cè)機(jī)構(gòu)哪里可以做光伏產(chǎn)品測(cè)試 

概述：新版標(biāo)準(zhǔn)把晶體硅IEC 61215和薄膜IEC 61646的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)糅合在一起，變成了IEC61215系列標(biāo)準(zhǔn)，采用一個(gè)總的測(cè)試要求（IEC61215-1）和一個(gè)總的測(cè)試程序（IEC 61215-2），而對(duì)不同類型的組件，

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光器件IEC61215-2報(bào)告檢測(cè)機(jī)構(gòu)哪里可以做光伏產(chǎn)品測(cè)試一、標(biāo)準(zhǔn)體系的變更

 

新版標(biāo)準(zhǔn)把晶體硅IEC 61215和薄膜IEC 61646的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)糅合在一起，變成了IEC61215系列標(biāo)準(zhǔn)，采用一個(gè)總的測(cè)試要求（IEC61215-1）和一個(gè)總的測(cè)試程序（IEC 61215-2），而對(duì)不同類型的組件，則采用特殊要求加以說明（IEC61215-1-X）,是的，以后就沒有IEC61646啦。

 

二、型式試驗(yàn)流程的變更

 

 

 

看新的流程，是不是發(fā)現(xiàn)比老版的更復(fù)雜了？

 

記住兩點(diǎn)就夠了：

 

  

三、測(cè)試要求的變更

 

1.銘牌與文件要求

 

銘牌在原有標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上增加了如下要求：

 

1）電擊防護(hù)等級(jí)

 

2）開路電壓（含公差）

 

3）短路電流（含公差）

 

4）輸出功率（含公差）

 

以上新的要求為電站建設(shè)中組件的精細(xì)選型提供了依據(jù)，對(duì)減少光伏方陣的串并聯(lián)損失，提高系統(tǒng)效率能起到很好的推進(jìn)作用。

[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]