碳化硅微管瑕疵檢測偏光儀PSV-590
概述: 單色光(晶圓、晶片、晶體)偏光應(yīng)力儀PSV-590 適用范圍: l適合于檢測透明玻璃或燈等有復(fù)雜構(gòu)造的產(chǎn)品。 l檢測高密度的塑料產(chǎn)品,如隱形眼鏡等。 l檢測光學(xué)
單色光(晶圓、晶片、晶體)偏光應(yīng)力儀PSV-590
適用范圍:
l 適合于檢測透明玻璃或燈等有復(fù)雜構(gòu)造的產(chǎn)品。
l 檢測高密度的塑料產(chǎn)品,如隱形眼鏡等。
l 檢測光學(xué)晶體晶片,如氟化鈣、碳化硅、光學(xué)透鏡等
型號 |
PSV-590 |
尺寸 |
W280×D385×H390mm |
重量 |
11Kg |
測樣有效長度 |
W200×D200mm |
測量空間高度 |
max240mm |
光源 |
590nm橙光 50w |
電源 |
直流24V(帶有220V適配器) |
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