MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測(cè)厚儀 

概述： 新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位。 - 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的精確性 - 測(cè)量范圍達(dá)15mm

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新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位。
- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的精確性
- 測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)
優(yōu)點(diǎn)一覽
- SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
- 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
- 生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
- 大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- 可下載更新軟件
MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
主機(jī)
主機(jī)型號(hào) MiniTest720 MiniTest730 MiniTest740
探頭類型 內(nèi)置 外置 內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) 10 10 100
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 最多10,000個(gè) 最多10,000個(gè) 最多100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值 讀值個(gè)數(shù)、最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式 出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控 聲、光報(bào)警提示超過極限
測(cè)量單位 μm，mm，cm；mils，inch，thou
數(shù)據(jù)接口 IrDA 1.0(紅外接口)
電源 2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
操作溫度 /存放溫度 - 10℃~60℃/- 20℃~70℃
體積 157mm x 75.5mm x 49mm
重量 約175g 約210g 約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
探頭特性 F1.5，N07，F(xiàn)N1.5 F2 F5，N2.5，F(xiàn)N5 F15
F N F F N F
測(cè)量范圍 0~1.5mm 0~0.7mm 0~2mm 0~5mm 0~2.5mm 0~15mm
使用范圍 小工件，薄涂層 粗糙表面 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 厚涂層
測(cè)量原理 磁感應(yīng) 電渦流 磁感應(yīng) 磁感應(yīng) 電渦流 磁感應(yīng)
信號(hào)處理 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)
精確度 ±(1μm+0.75%讀值) ±(1.5μm+0.75%讀值) ±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性 ±(0.5μm+0.5%讀值) ±(0.8μm+0.5%讀值) ±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
最小曲率半徑(凸) 1.0mm 1.5mm 5mm
最小曲率半徑
 (凹，外置探頭) 7.5mm 10mm 25mm
(凹，內(nèi)置探頭) 30mm 30mm 30mm
最小測(cè)量面積 Ø5mm Ø10mm Ø25mm
最小基體厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度 每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下最大測(cè)量速度 每分鐘70個(gè)讀數(shù)
MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測(cè)厚儀
[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]
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