非晶硅
所有分類(lèi)下結(jié)果單晶硅光伏組件IEC61730報(bào)告檢測(cè)公司安全性能測(cè)試
多晶太陽(yáng)能光伏組件IEC 61730,單晶硅光伏組件IEC 61730,非晶硅薄膜光伏組件IEC 61730,單晶硅光伏組件IEC61730報(bào)告檢測(cè)公司安全性能測(cè)試
便攜平板探測(cè)器
用途:普通X線(xiàn)攝影
方法:平板探測(cè)器:閃爍體和非晶硅(a-Si)
傳感器:LANMIT(大面積新型MIS傳感器和TFT)
★閃爍體:GOS
[北京 儀器儀表]
單晶硅光伏組件IEC61730報(bào)告檢測(cè)公司安全性能測(cè)試
多晶太陽(yáng)能光伏組件IEC 61730,單晶硅光伏組件IEC 61730,非晶硅薄膜光伏組件IEC 61730,單晶硅光伏組件IEC61730報(bào)告檢測(cè)公司安全性能測(cè)試
便攜平板探測(cè)器
用途:普通X線(xiàn)攝影
方法:平板探測(cè)器:閃爍體和非晶硅(a-Si)
傳感器:LANMIT(大面積新型MIS傳感器和TFT)
★閃爍體:GOS
[北京 儀器儀表]