測(cè)試
所有分類下結(jié)果無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流(Eddy Current)測(cè)試技術(shù),能夠?qū)枇、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
太陽(yáng)能光伏電池IV特性分析系統(tǒng)
[中介]太陽(yáng)能光伏電池的所有性能表征手段中,IV特性測(cè)試無(wú)疑是最直觀、最有效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法。PH-SIV100通過(guò)測(cè)量IV特性曲線,對(duì)數(shù)據(jù)分析處理,可以直接得到光伏電池的各項(xiàng)物理性能。為光伏電池的研究、
無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池片制造過(guò)程中對(duì)表面厚度TTV電阻率無(wú)損測(cè)量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料
單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測(cè)試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量,更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到2000
硅材料綜合測(cè)試儀
[中介]硅料綜合測(cè)試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測(cè)試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
無(wú)接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無(wú)接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命掃描儀,能夠?qū)尉Ч璋、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試,其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平
便攜式熱像光能檢測(cè)儀

HS-FT320便攜式熱像檢測(cè)儀利用紅外熱成像技術(shù),對(duì)被檢測(cè)物體的熱紅外輻射探測(cè),并加以信號(hào)處理、光電轉(zhuǎn)換等手段,將標(biāo)的物的溫度分布的圖像轉(zhuǎn)換成可視圖像的檢測(cè)設(shè)備。常用于機(jī)房,光伏電站,配電室,發(fā)電機(jī),工業(yè)爐,電氣生產(chǎn)設(shè)備等監(jiān)控、故障的預(yù)防和排除。合能陽(yáng)光針對(duì)光伏行業(yè)特點(diǎn),開發(fā)的便攜式熱像檢測(cè)儀,對(duì)光伏組件工作檢測(cè)和光伏電站運(yùn)行情況監(jiān)測(cè),具有靈敏度高,測(cè)試溫度廣,容易操作,測(cè)試精準(zhǔn)等特點(diǎn)。
[北京 儀器儀表]
硅片表面線痕深度測(cè)試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線痕深度測(cè)試儀可用于測(cè)試硅片的表面線痕深度,具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn),同時(shí)內(nèi)置打印機(jī)和充電電池,所有設(shè)計(jì)均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標(biāo)準(zhǔn)。
原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀是一款高端半導(dǎo)體材料型號(hào)測(cè)試儀器,具有大量程測(cè)試范圍的特點(diǎn),尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料(含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等)以及各種低阻硅料型號(hào)測(cè)量,型
半自動(dòng)硅片厚度TTV測(cè)試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測(cè)量
■測(cè)量范圍:0~2mm
■分辨率:0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測(cè)量
■測(cè)頭自動(dòng)升降
■手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式