少子壽命 選購指南
單點少子壽命測試儀
產(chǎn)品介紹: HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到20000μs,硅料電阻率下限達0.1Ω.cm,(可擴展至0.01Ω.cm)。測試過程全程動態(tài)曲線監(jiān)控，少子壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應表面復合效應等缺陷情況，是原生多晶硅料及半導體及太陽能拉晶企業(yè)不可多得少子壽命測量儀器。 產(chǎn)品特點 ■......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞 
美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀
灣邊貿(mào)易供應美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀 美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀器采用了獨特的測量和分析技術(shù)，包括類似平穩(wěn)狀態(tài)photoconductance (QSSPC)測量方法�？伸`敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應表面復合效應等缺陷情況。WCT一個高度被看待的研究和過程工具。QSSPC終身測量也產(chǎn)生含蓄的打開電路電壓(對照明)曲線，與I-V曲線是可比較的在一個太陽能電池過程的每個階段。sinton WCT-120 WCT-120準穩(wěn)態(tài)光電導法測少子壽命的原理？ W......
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