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        無接觸少子壽命掃描儀

          產(chǎn)品介紹: HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀,能夠?qū)尉Ч璋、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試,其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平衡載流子壽命的,并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍:0.1-1000Ω.cm,,是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量?jī)x器。 產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 無接觸和無損傷測(cè)量 ■ 自......

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