斷層掃描 選購指南

蔡司3D X射線斷層掃描儀

蔡司3D X射線斷層掃描儀Xradia Context是一種大視場，非破壞性3D X射線微型計算機斷層掃描系統(tǒng)。 借助強大的平臺和靈活的軟件控制源/探測器定位，您可以在完整的3D環(huán)境中對大型，重型(25 kg)和高樣本進行成像，以及具有高分辨率和細(xì)節(jié)的小樣本。 　　獲取完整的電子元件，大型原材料樣品或生物樣品的3D數(shù)據(jù)。 　　執(zhí)行非破壞性故障分析，以識別內(nèi)部缺陷，而無需切割樣品或工件 　　表征和量化材料中的性能定義異質(zhì)性，如孔隙率，裂縫，夾雜物，缺陷或多相。 　　......