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所有分類下結(jié)果無接觸體電阻率型號測試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術(shù)，能夠?qū)枇�、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
太陽能光伏電池IV特性分析系統(tǒng)
[中介]太陽能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測試無疑是最直觀、最有效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法。PH-SIV100通過測量IV特性曲線，對數(shù)據(jù)分析處理，可以直接得到光伏電池的各項(xiàng)物理性能。為光伏電池的研究、
無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料
單點(diǎn)少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
激光橢偏儀針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量
[中介]多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有極高的精確度和準(zhǔn)確度。
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋�、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
光譜橢偏儀全自動
[中介]全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準(zhǔn)裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于
自動光譜橢偏儀
[中介]光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應(yīng)用的光譜
硅片表面線痕深度測試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線痕深度測試儀可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)內(nèi)置打印機(jī)和充電電池，所有設(shè)計(jì)均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標(biāo)準(zhǔn)。
